單項(xiàng)選擇題能用于測定縱波平底孔實(shí)用AVG曲線的試塊是（）。
A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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1.單項(xiàng)選擇題（）是以特定方法檢測特定試件時(shí)所用的試塊，與受檢件材料聲學(xué)特性相似，含有意義明確的參考反射體。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
2.單項(xiàng)選擇題（）是具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評定和校準(zhǔn)超聲檢測設(shè)備的試塊。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
3.單項(xiàng)選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用，說法錯(cuò)誤的是（）。
A.測試、校驗(yàn)儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時(shí)基線、確定靈敏度
C.測試工件的聲阻抗
D.評判缺陷大小
4.單項(xiàng)選擇題探頭標(biāo)牌上的型號(hào)為2.5P20Z，則說明探頭為（）。
A.頻率為2MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的雙晶直探頭
5.單項(xiàng)選擇題探測與探測面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應(yīng)選擇（）。
A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題