A.需求分析
B.概要設(shè)計(jì)
C.編碼
D.維護(hù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.路徑覆蓋
B.判定覆蓋
C.邊界值分析
D.條件覆蓋
A.白盒測(cè)試
B.灰盒測(cè)試
C.黑盒測(cè)試
D.確認(rèn)測(cè)試
A.路徑測(cè)試
B.等價(jià)類
C.因果圖
D.歸納測(cè)試
A.setUp()
B.set()
C.setap()
D.setDown()
A.自中向下增量測(cè)試方法
B.自底向上增量測(cè)試方法
C.多次性測(cè)試
D.維護(hù)
最新試題
H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí),下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是()
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn),常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括()。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是()
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法,應(yīng)用廣泛,但()不屬于該類方法。
下面對(duì)于開發(fā)過(guò)程描述正確的是()
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在:基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性,某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn);所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例,保障滿足一定的覆蓋率。