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A.磁頭在不工作時(shí),是不會(huì)懸浮在盤(pán)片表面的
B.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán),工作時(shí)磁頭與盤(pán)片的距離為頭發(fā)直徑的千分之一
C.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán),工作時(shí)磁頭與盤(pán)片的距離為10~30微米
D.某個(gè)現(xiàn)代機(jī)械硬盤(pán)不工作時(shí),磁頭與盤(pán)片的距離略高
A.相同型號(hào)的硬盤(pán),缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比,前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問(wèn)題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List,相對(duì)連續(xù)讀寫(xiě)而言,P-List缺陷對(duì)性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過(guò)工廠嚴(yán)格測(cè)試的硬盤(pán),也可能有缺陷扇區(qū)
最新試題
NTFS文件系統(tǒng)中一個(gè)簇的大小可能為()扇區(qū)。
NTFS扇區(qū)為512的情況下,文件記錄中“更新序列號(hào)”的兩個(gè)字節(jié)會(huì)出現(xiàn)在()。
如果以Big-endian方式存儲(chǔ),在WinHex中讀取表現(xiàn)為56AB78EFH,該值應(yīng)為()。
除了0號(hào)FAT項(xiàng)和1號(hào)FAT項(xiàng)以外,如果一個(gè)FAT項(xiàng)為非零值,那么可能是()。
下列()是NTFS文件系統(tǒng)中DBR扇區(qū)上的結(jié)構(gòu)。
FAT16文件系統(tǒng)與FAT32文件系統(tǒng)都擁有的組成部分是()。
SAS的數(shù)據(jù)接口和供電接口是()。
如果以Little-endian方式存儲(chǔ),在WinHex中讀取表現(xiàn)為56AB78EF,該值應(yīng)為()。
對(duì)FAT32文件系統(tǒng),通過(guò)DBRBPB當(dāng)中的(),就可以計(jì)算出數(shù)據(jù)區(qū)的開(kāi)始扇區(qū)。
現(xiàn)代硬盤(pán)中,一個(gè)扇區(qū)可以包括的合法的字節(jié)數(shù)有()。