A.壓力測(cè)試
B.負(fù)載測(cè)試
C.安全性測(cè)試
D.容量測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→本階段開發(fā)和測(cè)試→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
B.本階段開發(fā)和測(cè)試→評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
C.評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→本階段開發(fā)和測(cè)試→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
D.確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→本階段開發(fā)和測(cè)試→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
A.不分析任務(wù)量直接安排日程
B.測(cè)試任務(wù)與開發(fā)任務(wù)完全獨(dú)立
C.測(cè)試計(jì)劃一經(jīng)制定不用更改
D.要關(guān)注軟件測(cè)試的成本預(yù)算
A.概要設(shè)計(jì)說明書
B.詳細(xì)設(shè)計(jì)說明書
C.代碼
D.需求說明書
A.單元測(cè)試
B.系統(tǒng)測(cè)試
C.驗(yàn)證測(cè)試
D.回歸測(cè)試
A.對(duì)所有的輸入組合創(chuàng)建測(cè)試用例
B.使用最少的測(cè)試用例獲得最大的測(cè)試覆蓋率
C.不用寫測(cè)試用例
D.便于進(jìn)行兼容性測(cè)試
最新試題
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）