A.入射角
B.折射角
C.擴(kuò)散角
D.反射角
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A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角相同
D.等于臨界角
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
D.以上全部
A.散熱
B.繞射
C.折射
D.反射
E.衍射
A.△db=20lg(I1/I2)
B.△db=10lig(I1/I2)
C.△db=20lg(I2/I1)
最新試題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是影響缺陷定量的因素。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。