圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測條件下，哪個波形圖可能存在較小缺陷？（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測條件下，哪個波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測的話，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
單探頭法容易檢出（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準相應(yīng)的聲程位置。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。