A.不變
B.降低
C.升高
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A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
A.端角反射低谷
B.過強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
A.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時(shí),聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時(shí),其聲程是恒定的
A.輻射功率
B.透過率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.等于入射角
B.等于折射角
C.與使用的耦合劑有關(guān)
D.與使用頻率有關(guān)
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
單探頭法容易檢出()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。