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填空題在圓周面上弦向入射橫波檢測時(shí)，一旦發(fā)現(xiàn)缺陷，則缺陷距外圓面的埋藏深度要比在平面探測面情況下的埋藏深度（）。

1.填空題在圓周面上弦向入射橫波檢測時(shí)，一旦發(fā)現(xiàn)缺陷，則缺陷距探頭的弧長距離要比在平面探測面情況下的水平距離（）。

2.填空題超聲波檢測中評定缺陷大小的“當(dāng)量法”適用于（）。

3.填空題采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般（）缺陷的實(shí)際尺寸。

4.填空題工業(yè)超聲波檢測中最主要應(yīng)用的耦合方式是（）、（）。

5.填空題由于超聲波檢測中應(yīng)用的耦合劑其聲阻抗通常遠(yuǎn)低于被檢的聲阻抗，因此在接觸法檢測中一般都要求耦合劑層的厚度（）。