圖A是斜入射橫波檢測示意圖;如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話,斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)()
A.A
B.B
C.C
D.D
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當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當(dāng)采用透射法檢測時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測量薄件的厚度
A.改善對小缺陷的檢測能力
B.改善粗糙表面的信噪比
C.改善相鄰缺陷的分辨力
D.以上都是
A.同一個(gè)缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
儀器水平線性影響()。