A.高靈敏度
B.高選擇性
C.應(yīng)用范圍窄
D.分析速度快
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A.化學(xué)計(jì)量焰又稱中性焰
B.當(dāng)助燃比大于化學(xué)計(jì)量焰時(shí)就產(chǎn)生富燃焰
C.乙炔與空氣之比為1:6產(chǎn)生貧燃焰
D.同一種類火焰由于助燃比不同可分為四種火焰類型
A.電極桿
B.外參比電極
C.內(nèi)參比電極
D.敏感膜
A.標(biāo)準(zhǔn)氫電極
B.甘貢電極
C.銀-氯化銀電極
D.膜電極
A.離子強(qiáng)度
B.溶液的PH
C.干擾離子
D.溫度
A.200~400nm
B.400~600nm
C.600~800nm
D.375~562nm
最新試題
在AAS測(cè)試中的物理干擾可通過配制與試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或標(biāo)準(zhǔn)加入法來克服。
在AAS測(cè)試中,火焰原子化時(shí),通常通過調(diào)節(jié)燃燒器高度來控制光束通過火焰的電離、化合區(qū)域。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì),還能提供原子或離子來源的分子信息。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度,凈化的時(shí)間為3~5s,目的是去除試樣殘留物,消除記憶效應(yīng)。
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。
不同基團(tuán)的某一種振動(dòng)形式可能會(huì)在同一頻率范圍內(nèi)都有紅外吸收。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),灰化的的目的是去除基體,尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測(cè)原子時(shí),使用盡可能高的溫度和長(zhǎng)的時(shí)間。
采用外標(biāo)法檢測(cè)樣品時(shí),對(duì)進(jìn)樣量的準(zhǔn)確性沒有要求,不適用于大批量試樣的快速分析。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起,可設(shè)法消除。