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A.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時(shí)才能產(chǎn)生，標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)的位置與陽(yáng)極靶材有關(guān)
B.標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)的位置與激發(fā)電壓、電流及陽(yáng)極靶材都有關(guān)
C.標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)的位置與激發(fā)電壓及電流無(wú)關(guān)
D.激發(fā)電壓要達(dá)到一定值時(shí)才能產(chǎn)生
A.Z靶< 40，Z濾=Z靶-2；Z靶>40，Z濾=Z靶-1
B.Z靶< 40，Z濾=Z靶-1；Z靶>40，Z濾=Z靶-2
C.Z靶>40，Z濾=Z靶-1；Z靶< 40，Z濾=Z靶-2
D.Z靶< 40，Z濾=Z靶+1；Z靶>40，Z濾=Z靶+2
A.巴克拉
B.勞厄
C.倫琴
D.布拉格父子
有一倒易矢量為
，與它對(duì)應(yīng)的正空間晶面是（）。
A.（210）
B.（220）
C.（221）
D.（110）
最新試題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
在電子探針中，測(cè)定X射線(xiàn)特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫(xiě)為（）。
X射線(xiàn)衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。