A.P=ρ2CV
B.P=ρC2V
C.P=ρ2CV2
D.P=ρCV
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A.I=P/2Z
B.I=P2/Z2
C.I=P2/2Z
D.I=P2/4Z
A.聲壓
B.聲強(qiáng)
C.聲能
A.聲壓
B.聲強(qiáng)
C.聲能
A.介質(zhì)厚度有限
B.介質(zhì)厚度等于半波長(zhǎng)
C.介質(zhì)厚度為半波長(zhǎng)的整數(shù)倍
D.以上都是
A.疊加
B.干涉
C.駐波
D.以上都不是
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
單探頭法容易檢出（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。