A.硬件系統(tǒng)
B.源程序
C.軟件系統(tǒng)
D.文檔
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.分析故障,使用最少步驟重現(xiàn)缺陷
B.包含所有重現(xiàn)缺陷的必要步驟
C.盡量全面——將一次發(fā)現(xiàn)的所有缺陷放在一個(gè)報(bào)告中
D.方便閱讀、注意缺陷報(bào)告書寫語氣
A.安全測(cè)試
B.兼容性測(cè)試
C.易用測(cè)試
D.安裝測(cè)試
A.單元測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.系統(tǒng)測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.壓力測(cè)試
B.負(fù)載測(cè)試
C.安全性測(cè)試
D.容量測(cè)試
A.評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→本階段開發(fā)和測(cè)試→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
B.本階段開發(fā)和測(cè)試→評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
C.評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→本階段開發(fā)和測(cè)試→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
D.確定目標(biāo)、可選方案和限制條件→評(píng)估方案、指出并解決風(fēng)險(xiǎn)→本階段開發(fā)和測(cè)試→提出修正建議、確定進(jìn)入下一階段的方法
最新試題
敏捷開發(fā)模型不適用于大型開發(fā)項(xiàng)目。
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是()
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是()。
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍,容易發(fā)現(xiàn)表面問題。說的是以下哪一種評(píng)審方法?()
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括()。
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是()。
下列測(cè)試方法中,對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是()
軟件評(píng)審的技術(shù)不包括()
Qtp是基于對(duì)象的自動(dòng)化測(cè)試軟件。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中,哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤,但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤?()