您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.輸入電壓相位相反
B.輸入電阻很高
C.輸出電阻很低
D.具有一定電流放大作用
E.具有一定功率放大作用
A.發(fā)射電壓幅度
B.發(fā)射脈沖頻率
C.脈沖持續(xù)時(shí)間
D.數(shù)字采樣誤差
E.脈沖上升時(shí)間
A.軌頭上角
B.軌顎部位
C.軌底上部區(qū)域
D.軌腰
E.軌端
A.缺陷的大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷的形狀
D.缺陷的表面狀態(tài)
E.缺陷的位置
最新試題
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會(huì)使定量誤差增加，精度下降。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位，必要時(shí)可加匹配線圈。
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí)，儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。