A.由于實(shí)際缺陷的形狀、性質(zhì)等原因,很難確定缺陷的真實(shí)尺寸
B.當(dāng)量法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
C.缺陷回波高度法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
D.以上都正確
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A.當(dāng)量法確定的缺陷尺寸能夠代表實(shí)際的缺陷尺寸
B.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法適用于面積大于聲束截面的缺陷
C.底面回波高度法適用于面積大于聲束截面的缺陷
D.以上都正確
A.斜射縱波
B.斜射橫波
C.表面波
D.都可以
A.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速
B.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速
C.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的縱波聲速
D.以上都是
A.各種尺寸的體積缺陷
B.小于聲束截面的缺陷
C.大于聲束截面的缺陷
D.評(píng)定缺陷尺寸僅與參考試塊有關(guān)
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
儀器水平線性影響()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。