A.盡可能靠向凸耳兩側(cè)
B.聲束軸線與凸耳軸線垂直
C.聲束軸線向凸耳兩側(cè)傾斜一定角度
D.以上都是
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A.裂紋
B.鍍層
C.分層
D.腐蝕
A.缺陷的性質(zhì)
B.缺陷的形狀
C.缺陷的尺寸
D.缺陷的位置
A.壁厚與外徑之比小于0.20
B.壁厚與外徑之比大于0.20
C.壁厚與內(nèi)徑之比小于0.20
D.壁厚與內(nèi)徑之比大于0.20
A.打磨修理后的厚度測(cè)量
B.回波相位分析材料性質(zhì)
C.復(fù)合材料脫層和積水
D.以上都是
A.凸耳內(nèi)壁面的回波
B.表面過(guò)多耦合劑產(chǎn)生的假顯示
C.楔塊內(nèi)的反射回波
D.都有可能
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。