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每日一練
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半導(dǎo)體測試技術(shù)問答題每日一練(2020.05.16)
來源:考試資料網(wǎng)
1.問答題
數(shù)字電路測試的流程。
參考答案:
⑴先閱讀被檢器件的使用手冊,根據(jù)手冊上的動、靜態(tài)參數(shù)編寫測試程序;
⑵根據(jù)送測單位的測試流程單給出的測試設(shè)備選...
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2.問答題
Open-short串行靜態(tài)測試方法優(yōu)缺點。
參考答案:
優(yōu)點
當一個失效(failure)發(fā)生時,其準確的電壓測量值會被數(shù)據(jù)記錄(datalog)顯示出來,不管它是O...
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3.問答題
測試的一般要求。
參考答案:
必須按照微電子器件試驗方法的軍用國家標準進行測試,其中就對測試環(huán)境提出了嚴格的要求,這樣可以避免外界因素對器件造成的誤差...
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4.問答題
Open-short功能測試優(yōu)缺點。
參考答案:
優(yōu)點
相對于DC串行/靜態(tài)法,運行測試向量要快得多。
缺點
datalog顯示的結(jié)果信息有...
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5.問答題
分立元件的測試。
參考答案:
分立元件是與集成電路相對而言的,包括電阻、電容、電感、晶體管等電子元件。下面主要介紹二極管的測試,二極管的類型不同,封裝...
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