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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)問答題每日一練(2020.02.23)

來源：考試資料網(wǎng)

1.問答題模擬電路的測(cè)試

參考答案：

模擬集成電路的最大特點(diǎn)在于其輸入、輸出信號(hào)是連續(xù)變化的，這就決定了模擬集成電路測(cè)試的復(fù)雜性，和多樣性。

2.問答題Open-short功能測(cè)試優(yōu)缺點(diǎn)。

參考答案：優(yōu)點(diǎn)
相對(duì)于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測(cè)試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...

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3.問答題測(cè)試的一般要求。

參考答案：必須按照微電子器件試驗(yàn)方法的軍用國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，其中就對(duì)測(cè)試環(huán)境提出了嚴(yán)格的要求，這樣可以避免外界因素對(duì)器件造成的誤差...

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4.問答題電解電容器在電路中的選擇原則。

參考答案：電解電容器由于自身的結(jié)構(gòu)與性能的特性，導(dǎo)致它在電路中常常是可靠性較低的電子元件之一。設(shè)計(jì)者經(jīng)常在電路設(shè)計(jì)時(shí)盡量少用，甚至...

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5.問答題基本注意事項(xiàng)。

參考答案：⑴安全：生產(chǎn)加工過程中不需要注意防火、防電、防事故，保證人身、設(shè)備和器件的安全。
⑵保密：每個(gè)公司都有自己的核...

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