A.使第二次界面波落在零件一次底波之后
B.使聲波在水中的衰減盡可能的小
C.使上表面的盲區(qū)盡可能的小
D.以上都是
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A.在零件中形成橢圓型聲場(chǎng)
B.在時(shí)基線上不會(huì)出現(xiàn)底面回波
C.在上下表面可能會(huì)產(chǎn)生反射位移
D.以上都是
A.必須確認(rèn)探頭折射角度和入射點(diǎn)
B.零件越薄時(shí),使用的橫波角度也相應(yīng)越大
C.有三種時(shí)間基線的調(diào)整方法
D.以上都是
A.相同頻率下,橫波比縱波的分辨力低
B.相同頻率下,橫波比縱波的穿透力低
C.與縱波一樣,橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)也存在干擾
D.與縱波一樣,側(cè)壁對(duì)橫波反射也會(huì)產(chǎn)生影響
A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比,橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
單探頭法容易檢出()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。