A.按照附錄F 的規(guī)定測定聲能傳輸損耗差。
B.對缺陷進(jìn)行定量檢測時,以掃查靈敏度測定。
C.用絕對靈敏度法測量缺陷指示長度。
D.指示長度小于10mm 的缺陷按5mm 計。
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A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評為II 級,
B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評為II 級,
C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評為I 級,
D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評為II 級,
A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑可為100mm。
D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對環(huán)縫檢測,對比試塊的曲率半徑可為84mm。
A.掃查靈敏度為φ3-6dB
B.用有機玻璃作斜楔時,斜探頭的入射角大致在28° ~57° 之間
C.掃查靈敏度為φ2-6dB
D.對厚度小于或等于600mm 鍛件檢測時,不考慮材質(zhì)衰減
A.若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)對比試塊人工缺陷回波基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線,則判為不合格
B.若缺陷回波幅度等于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線,則判為不合格
C.對縱向缺陷和橫向缺陷檢測時,掃查靈敏度均應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB
D.若缺陷回波幅度高于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線,則判為不合格
A.對厚度大于50mm 至150mm 的鋼板,將探頭置于試塊表面,使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽寬邊,找出第一個1/2跨距最大的波幅,調(diào)整到80%滿刻度波高,然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài),使探頭在3/2跨距和全跨距位置探測試塊表面槽的最大反射波,連接此三個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
B.對厚度小于或等于50mm 的鋼板,將探頭置于試塊表面,使波束對準(zhǔn)試塊表面的槽寬邊,找出第一個全跨距最大波幅,調(diào)整到80%滿刻度波高,然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài),使探頭在第二個全跨距探測試塊表面槽的最大反射波,連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
C.對厚度大于150mm 至250mm 的鋼板,將探頭置于試塊表面,使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽寬邊,找出第一個1/2跨距最大的波幅,調(diào)整到80%滿刻度波高,然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài),使探頭在全跨距位置探測試塊表面槽的最大反射波,連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
D.對厚度小于或等于50mm 的鋼板,將探頭置于試塊表面,使波束對準(zhǔn)試塊背面的槽寬邊,找出第一個全跨距最大波幅,調(diào)整到80%滿刻度波高,然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài),使探頭在第二個全跨距探測試塊表面槽的最大反射波,連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
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