單項(xiàng)選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出（）

A.近場(chǎng)干擾
B.材質(zhì)衰減影響
C.存在盲區(qū)
D.聲耦合效率低


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1.單項(xiàng)選擇題與透射法相比，以下選項(xiàng)哪種是反射法的優(yōu)點(diǎn)（）

A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是

2.單項(xiàng)選擇題與透射法相比，以下哪種是反射法的優(yōu)點(diǎn)（）

A.盲區(qū)小
B.可對(duì)缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是

3.單項(xiàng)選擇題與透射法相比，以下哪些選項(xiàng)是反射法的缺點(diǎn)（）

A.不利于檢測(cè)衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測(cè)
D.以上都是

4.單項(xiàng)選擇題與反射法相比，以下四個(gè)選項(xiàng)哪種是透射法的優(yōu)點(diǎn)（）

A.可對(duì)缺陷精確定位
B.檢測(cè)靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是

5.單項(xiàng)選擇題與反射法相比，以下哪種是透射法的優(yōu)點(diǎn)（）

A.可對(duì)缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是