單項(xiàng)選擇題以頻率來(lái)表征聲波，下面那一種屬于聲波（）。

A.1500Hz
B.20KHz
C.2500Hz
D.0.5MHz


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你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題下列那一種波是按波型區(qū)分的（）。

A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.表面波

2.單項(xiàng)選擇題聲波的指向角，在頻率一定時(shí)芯片直徑越大，指向角（）。

A.不變
B.越大
C.越小
D.不確定

3.單項(xiàng)選擇題分割式探頭主要用來(lái)（）。

A.探測(cè)離探傷面遠(yuǎn)的缺陷
B.探測(cè)離探傷面近的缺陷
C.探測(cè)與探傷面平行的缺陷

4.單項(xiàng)選擇題下列那些探傷方法適用于檢查工件近表面缺陷（）。

A.射線
B.磁粉
C.渦流
D.滲透
E.超聲

最新試題

超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。

題型：判斷題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

題型：判斷題

儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí)，儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。

題型：判斷題

橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí)，不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷，其回波高相差不大。

題型：判斷題

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

題型：判斷題

當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會(huì)使定量誤差增加，精度下降。

題型：判斷題

儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí)，若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會(huì)使缺陷定位誤差增加。

題型：判斷題

當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。

題型：判斷題

缺陷垂直時(shí)，擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高，而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。

題型：判斷題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。

題型：判斷題