單項(xiàng)選擇題靠近探頭的長條形缺陷并不一定都能探測到，因?yàn)椋ǎ?/strong>
A.聲束擴(kuò)散
B.材質(zhì)衰減
C.儀器阻塞效應(yīng)
D.折射
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1.單項(xiàng)選擇題鍛件中缺陷的取向通常為（）
A.雜亂
B.平行于晶粒流向
C.垂直線與晶粒流向之間
D.與晶粒流向成45º角
2.單項(xiàng)選擇題開槽的超聲參考試塊可用于（）
A.確定缺陷深度
B.評定表面缺陷
C.作為評定長條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作評定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
3.單項(xiàng)選擇題在水浸檢驗(yàn)中，探頭與試件水距（）
A.應(yīng)盡可能減小
B.使二次界面波在底面回波之前
C.使二次界面波在底面回波之后
D.應(yīng)盡可能的大
4.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2；隨聲阻比Z/Z的增大而透過的聲壓（）
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
5.單項(xiàng)選擇題一個(gè)經(jīng)校正的超聲探測系統(tǒng)，從鋁試塊中深度為75mm，直徑為4mm平底孔上得到50mm的波高顯示，在檢驗(yàn)鋁鍛件時(shí)，表面狀態(tài)和材質(zhì)，都與試塊相同，若從深度為75mm處得到50mm波高顯示，則缺陷的面積可能是（）
A.與直徑4mm 的平底孔的面積相同
B.大于直徑4mm平底孔的面積
C.稍小于直徑4mm平底孔的面積
D.約為直徑4mm平底孔的面積
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題