A.可變角的探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.收/發(fā)聯(lián)合雙晶探頭
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A.50%
B.90%
C.0
D.1%
A.聲阻抗相差大
B.聲阻抗相差小
C.衰減小
D.聲速相差小
A.線狀?yuàn)A渣
B.與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷
C.密集氣孔
D.未焊透
A.在整個(gè)探測(cè)表面上保持水距一致
B.保證最大水距
C.保證聲束的入射角橫定為15º
D.保證聲束對(duì)探測(cè)面的角度為5º
A.導(dǎo)致熒光屏圖像中失去底面回波
B.難以對(duì)平行于入射面的缺陷進(jìn)行定位
C.通常表示在金屬中存在疏松狀態(tài)
D.減小試驗(yàn)的穿透力
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。