問(wèn)答題說(shuō)明超聲波探傷工藝的一般內(nèi)容有哪些?
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.問(wèn)答題為什么要制定探傷工藝的一般流程?
2.問(wèn)答題A型顯示儀器中儀器和探頭的組合性能包括哪些內(nèi)容?
3.問(wèn)答題超聲波探傷儀有哪些主要技術(shù)指標(biāo)?
4.問(wèn)答題超聲波探傷儀中設(shè)置DAC補(bǔ)償電路的作用是什么?
5.問(wèn)答題接收電路一般可分為哪幾個(gè)部分?
最新試題
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
題型:多項(xiàng)選擇題
為了提高探傷結(jié)果的可靠性,探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的()和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
題型:多項(xiàng)選擇題
金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
題型:多項(xiàng)選擇題
使用雙探頭掃查時(shí),如盲目改變掃查方向,將會(huì)導(dǎo)致()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
采用兩個(gè)斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷掃查過(guò)程中,探頭的方向應(yīng)根據(jù)()進(jìn)行布局和掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題