多項選擇題探傷中探頭晶片尺寸增加，相應的（）對探傷有利。
A.半擴散角減小
B.近場區(qū)長度增加
C.波束指向性好
D.半擴散角增大
E.超聲波能量集中
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1.多項選擇題超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。
A.直探頭
B.縱波斜探頭
C.橫波斜探頭
D.表面波探頭
E.雙晶探頭等
2.多項選擇題在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。
A.聲束變寬
B.聲束變窄
C.聲能集中
D.分辨率高
E.分辨率低
3.多項選擇題由于各種試件的結構、質量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。
A.大小
B.類型
C.形狀
D.取向
E.尺寸
4.多項選擇題探傷中對工件材料的（）有一定的要求。
A.材料的種類
B.幾何形狀
C.工件的大小
D.材料狀態(tài)
E.工件的表面狀態(tài)
5.多項選擇題為了提高探傷結果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調查。
A.制造工藝
B.表面狀況
C.缺陷種類
D.材料特性
E.熱處理狀態(tài)
最新試題
核對軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。
題型：單項選擇題
采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
題型：單項選擇題
探傷工藝流程中探傷技術規(guī)范主要指的是（）
題型：多項選擇題
探傷中遇鋼軌焊補時，執(zhí)機人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應提高（）。
題型：單項選擇題
探傷中探頭晶片尺寸增加，相應的（）對探傷有利。
題型：多項選擇題
垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。
題型：單項選擇題
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數一般為（）倍。
題型：單項選擇題
剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎上增加（）。
題型：單項選擇題
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）
題型：單項選擇題
耦合劑應選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
題型：單項選擇題