A、放大器
B、接收器
C、脈沖發(fā)生器
D、同步器
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、靈敏度范圍
B、線性范圍
C、選擇性范圍
D、分辨范圍
A、分辨力
B、重復(fù)頻率
C、水平線性
A、發(fā)射超聲脈沖
B、把發(fā)射脈沖放大
C、發(fā)射電脈沖
D、產(chǎn)生方形波
A、阻塞
B、上升
C、同步
A、水平線性
B、垂直線性
C、動(dòng)態(tài)范圍
D、b和c
最新試題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。