單項(xiàng)選擇題按JB3963-85標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)餅形鋼鍛件時(shí)，應(yīng)記錄的缺陷是（）

A、≥Φ3mm當(dāng)量的密集區(qū)
B、當(dāng)量＞Φ4mm的單個(gè)缺陷
C、當(dāng)量等于Φ4mm的缺陷密集區(qū)
D、b和c


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3.單項(xiàng)選擇題板厚150mm的鋼板做周邊檢驗(yàn)時(shí)，周邊掃查范圍為（）

A、50mm
B、75mm
C、150mm
D、以上都可以

4.單項(xiàng)選擇題ZB J 74003-88標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的調(diào)節(jié)鋼板探傷靈敏度的方法是（）

A、平底孔試塊法
B、底波高度法
C、底波高度和次數(shù)綜合法
D、a和b

5.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺(tái)階孔，其目的是（）

A、測(cè)定斜探頭K值
B、測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C、測(cè)定斜探頭分辨力
D、以上全是

最新試題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊，當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè)，若反面還需打底，則無(wú)需X射線檢測(cè)。

題型：判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型：判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型：判斷題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。

題型：判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型：判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型：判斷題