單項選擇題GB 11345-89標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，需要進行波幅和指示長度測定的缺陷是（）

A、III區(qū)的缺陷
B、II區(qū)的缺陷
C、定量線及定量線以上的缺陷
D、I區(qū)的缺陷


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1.單項選擇題JB 3963-85標(biāo)準(zhǔn)中進行等級分類的依據(jù)是（）

A、單個缺陷反射波幅
B、缺陷引起的底波降低量
C、缺陷密集區(qū)占探傷總面積百分比
D、以上都可以作為獨立評級的依據(jù)

2.單項選擇題按JB3963-85標(biāo)準(zhǔn)檢驗餅形鋼鍛件時，應(yīng)記錄的缺陷是（）

A、≥Φ3mm當(dāng)量的密集區(qū)
B、當(dāng)量＞Φ4mm的單個缺陷
C、當(dāng)量等于Φ4mm的缺陷密集區(qū)
D、b和c

5.單項選擇題板厚150mm的鋼板做周邊檢驗時，周邊掃查范圍為（）

A、50mm
B、75mm
C、150mm
D、以上都可以

最新試題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型：判斷題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）

題型：單項選擇題

對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。

題型：判斷題

下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。

題型：單項選擇題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型：判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。

題型：判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應(yīng)立即（）。

題型：單項選擇題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機構(gòu)處理。

題型：判斷題

觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

題型：判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型：判斷題