A.多晶硅
B.氮化硅
C.二氧化硅
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A.預(yù)
B.再
C.選擇
A.堿性
B.酸性
C.中性
A、干氧
B、濕氧
C、水汽氧化
D、不能確定哪個(gè)使用的時(shí)間長(zhǎng)
A.高斯函數(shù)
B.余誤差函數(shù)
C.指數(shù)函數(shù)
D.線性函數(shù)
A、原子束
B、分子束
C、中子束
D、離子束
最新試題
集成電容主要有哪幾種結(jié)構(gòu)?
遷移率是反映半導(dǎo)體中載流子導(dǎo)電能力的重要參數(shù)。摻雜半導(dǎo)體的電導(dǎo)率一方面取決于摻雜的濃度,另一方面取決于遷移率的大小。同樣的摻雜濃度,載流子的遷移率越大,材料的電導(dǎo)率就越高。()
場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵源電壓變化可以控制漏電流變化。()
設(shè)置的非破壞性鍵合拉力通常為最小鍵合強(qiáng)度的50%。()
厚膜元件材料的粉末顆粒越小、表面形狀謦復(fù)雜,比表面積就越大,則表面自由能也就越高,對(duì)燒結(jié)越有利。()
點(diǎn)缺陷,如空位、間隙原子、反位缺陷、替位缺陷,和由它們構(gòu)成的復(fù)合體。()
值稱為共發(fā)射極電流放大系數(shù),是晶體管的一個(gè)重要參數(shù),也是檢驗(yàn)晶體管經(jīng)過硼、砷摻雜后的兩個(gè)pn結(jié)質(zhì)量?jī)?yōu)劣的重要標(biāo)志。()
金屬剝離工藝是以具有一定圖形的光致抗蝕劑膜為掩膜,帶膠蒸發(fā)或?yàn)R射所需的金屬,然后在去除光致抗蝕劑膜的同時(shí),把膠膜上的金屬一起去除干凈。()
門陣列的基本結(jié)構(gòu)形式有兩種:一種是晶體管陣列,一種是門陣列()
干法腐蝕清潔、干凈、無脫膠現(xiàn)象、圖形精度和分辨率高。()