A.6db
B.9db
C.12db
D.以上都不是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.高
B.低
C.相同
A.不變
B.降低
C.升高
A.1/2倍
B.1/4倍
C.1/2.8倍
D.1/5倍
A.端角反射低谷
B.過(guò)強(qiáng)的端角反射
C.不需要考慮
A.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角與橫波反射角之和為90°
B.產(chǎn)生61°反射時(shí),縱波入射角為61°,橫波反射角為29°
C.產(chǎn)生61°反射時(shí),聲波入射角為29°,縱波反射角為61°
D.產(chǎn)生61°反射時(shí),其聲程是恒定的
最新試題
單探頭法容易檢出()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。