A.探測范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場長度小
D.雜波少
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A.檢測精度高，定位定量準(zhǔn)
B.頻帶寬，脈沖窄
C.可記錄存儲信號
D.儀器有計算和自檢功能
A.透聲性能好
B.材質(zhì)衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2
A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測表層缺陷
D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)
A.鈦酸鋇（CL=5470m/s）
B.鈦酸鋰（CL=7400m/s）
C.PZT（CL=4400m/s）
D.鈦酸鉛（CL=4200m/s）
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。