A.水平定位法
B.深度定位法
C.聲程定位法
D.二次波法
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A.100mm
B.125mm
C.150mm
D.200mm
A.脈沖波峰
B.脈沖前沿
C.脈沖后沿
D.以上都可以
A.來(lái)自工作表面的雜波
B.來(lái)自探頭的噪聲
C.工作上近表面缺陷的回波
D.耦合劑噪聲
A.精確對(duì)缺陷定位
B.精確測(cè)定缺陷形狀
C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形
D.以上方法須同時(shí)使用
A.缺陷的長(zhǎng)度
B.缺陷的性質(zhì)
C.缺陷的位置
D.缺陷的高度
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
儀器水平線性影響()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
單探頭法容易檢出()。