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A.試驗(yàn)頻率
B.試件溫度
C.試件硬度
D.試件磁導(dǎo)率
E.以上都是
A.保持不變
B.減小
C.增大
D.以上都不是
A.可以由若干個(gè)參數(shù)產(chǎn)生
B.可依據(jù)有關(guān)的變量進(jìn)行選擇
C.對(duì)不同參數(shù)的變化,響應(yīng)的相位和大小不同
D.以上都是
A.物體變熱,不能得到信息
B.插入物體抵消了所有信息
C.插入物體會(huì)使二次磁通量增強(qiáng),從而產(chǎn)生一個(gè)新的磁通量,可用它提供試驗(yàn)信息
D.從二次電壓中減去一次電壓,便得到凈電壓
A.只包含缺陷信息而不顯示磁場(chǎng)強(qiáng)度的變化
B.不包含串音發(fā)生的信號(hào)
C.不包含電噪聲
D.以上都是
A.導(dǎo)體表面下的渦流最弱
B.導(dǎo)體內(nèi)的渦流相位是變化的
C.渦流沿直線流動(dòng)
D.沿線圈軸線的渦流最大
最新試題
阻抗圖中,實(shí)線曲線是什么值不同的曲線()。
寫(xiě)出VC-S滲透探傷的工藝流程。
試驗(yàn)線圈激勵(lì)電流應(yīng)保持恒定,這樣用渦流系統(tǒng)得到的試件信息()。
JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定磁軛的磁極間距應(yīng)控制在()。
下圖所示的標(biāo)準(zhǔn)試件可用來(lái)測(cè)定()。
新置的Ir192γ射線源,其活度為40Ci,現(xiàn)今時(shí)隔300天,已知,Ir192γ射線源的半衰期為75天。求該源現(xiàn)在的活度?該源新置時(shí),對(duì)某工件進(jìn)行射線照相的曝光時(shí)間為4min,若所有條件不變,現(xiàn)今應(yīng)曝光多少分鐘?
有一個(gè)變量對(duì)渦流和磁場(chǎng)狀態(tài)的變化發(fā)生影響,線圈的輸出信號(hào)實(shí)際上是由這個(gè)變量產(chǎn)生的。這個(gè)變量是()。
造成相同的x射線機(jī)曝光曲線不完全相同的原因是什么?
下面哪種是圍繞線圈在導(dǎo)體中感應(yīng)出的渦流的一個(gè)性質(zhì)()。
下面哪種是圍繞線圈在一個(gè)均勻的導(dǎo)體中感應(yīng)出的渦流的一個(gè)性質(zhì)()。