判斷題CMP對于征尺寸小于0.25um的產(chǎn)品無任何影響。

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2.多項選擇題以下哪些算法可用于遍歷網(wǎng)絡圖?()

A.廣度優(yōu)先搜索
B.深度優(yōu)先搜索
C.線性規(guī)劃策略
D.決策樹

3.多項選擇題下列選項中屬于集成電路工藝過程的是()。

A.外延
B.注入
C.光刻
D.EDA

4.多項選擇題下列選項中屬于標準單元版圖特點的是()。

A.等高
B.電源和地線確定寬度
C.等寬
D.等面積