A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關(guān)閉中間鏡
D、關(guān)閉物鏡
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、電子源
B、會聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
最新試題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
拉曼光譜分析儀在使用過程中,正確的實驗操作有()。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點分布在()半徑的倒易球上。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。