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A.以物鏡光欄套住透射斑;
B.以物鏡光欄套住衍射斑;
C.將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑。
A.小于真實(shí)粒子大?。?br />
B.是應(yīng)變場(chǎng)大??;
C.與真實(shí)粒子一樣大??;
D.遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于真實(shí)粒子
A.質(zhì)厚襯度;
B.衍襯襯度;
C.應(yīng)變場(chǎng)襯度;
D.相位襯度。
A.b=(0-10);
B.b=(1-10);
C.b=(0-11);
D.b=(010)。
A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
最新試題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí),記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。