A.質(zhì)厚襯度;
B.衍襯襯度;
C.應變場襯度;
D.相位襯度。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.b=(0-10);
B.b=(1-10);
C.b=(0-11);
D.b=(010)。
A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關閉中間鏡
D、關閉物鏡
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
最新試題
關于X射線衍射儀的測量動作,說法正確的是()。
熱分析技術中,試樣用量越多,熱效應大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導致峰形擴大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
在熱分析技術中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
拉曼光譜分析時,1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率,解釋通常是可靠的,一般可以確信其推論。
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強,形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
電子束與固體樣品作用時,會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
在體心點陣中,當(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時,產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
簡單立方結構材料發(fā)生衍射時,可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。