A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
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A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關(guān)閉中間鏡
D、關(guān)閉物鏡
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
最新試題
X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為()。
簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時,可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實現(xiàn)的。
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導致峰形擴大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒有損失。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。