單項(xiàng)選擇題在高速檢驗(yàn)中,為了檢驗(yàn)一個(gè)不重復(fù)的缺陷顯示,使用哪種類型的示波器最好?()

A.存儲(chǔ)型
B.取樣型
C.短余輝型
D.雙線型


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1.單項(xiàng)選擇題只顯示試驗(yàn)線圈總阻抗數(shù)值變化的渦流試驗(yàn)儀器().

A.不能用來(lái)分選直徑不同、化學(xué)成分相同的鋁棒;
B.一般用來(lái)測(cè)量鑄管的壁厚變化;
C.不使用陰極射線管顯示器;
D.對(duì)尺寸變化比電導(dǎo)率的變化靈敏.

2.單項(xiàng)選擇題在線性時(shí)基設(shè)備中,哪一種類型的信號(hào)施加在水平偏轉(zhuǎn)板上?()

A.正弦電壓;
B.方波電壓;
C.鋸齒波電壓

3.單項(xiàng)選擇題調(diào)制分析中,常用的顯示類型是().

A.陰極射線管;
B.模擬量表;
C.圖表記錄儀;
D.數(shù)字伏特計(jì).

4.單項(xiàng)選擇題調(diào)制系統(tǒng)中,濾波器用來(lái)().

A.放大裂紋或其它缺陷信號(hào);
B.減少信噪比;
C.消除試樣電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率少量不規(guī)則變化的影響;
D.從磁導(dǎo)率變化中分離出電導(dǎo)率變化.

5.單項(xiàng)選擇題在線圈的電磁場(chǎng)中放一個(gè)導(dǎo)電物體會(huì)減小感抗分量。其原因是().

A.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)同相;
B.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)相位差90°;
C.兩個(gè)電磁場(chǎng)分量之間的相位角總是大于90°,因而使一次電磁場(chǎng)部分抵消;
D.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)相位差180°,因此產(chǎn)生一個(gè)大的相位移

最新試題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題