單項選擇題相同材質(zhì)的兩根導(dǎo)電棒,直徑大的那根棒材的特征頻率()。
A.高
B.低
C.相同于直徑小的
D.與直徑無關(guān)
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1.單項選擇題為了探出所需深度中的缺陷,在渦流探傷中可選用的條件是()。
A.試件電導(dǎo)率
B.激勵頻率
C.試件導(dǎo)磁率
D.試件尺寸
2.單項選擇題某鋼試件,在未進行磁飽和時,滲透深度為1mm,若進行磁飽和后,導(dǎo)磁率降至原來的1%,則此時的滲透深度為()。
A.0.01mm
B.0.1mm
C.1mm
D.10mm
3.單項選擇題距離表面的距離為標準滲透深度的點處的渦流密度約降至表面渦流密度的()。
A.63%
B.50%
C.37%
D.10%
4.單項選擇題同一導(dǎo)電試件,若激勵頻率提高到原來的九倍,即f2=9f1。則滲透深度應(yīng)符合()。
A.δ2=1/9δ1
B.δ2=1/3δ1
C.δ2=9δ1
D.δ2=3δ1
5.單項選擇題在相同激勵頻率之下,同一鋼試件,磁飽和前后的滲透深度應(yīng)符合()。
A.δ前>δ后
B.δ前=δ后
C.δ前<δ后
D.δ前=2δ后
最新試題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學家()
題型:單項選擇題
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。
題型:判斷題
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
題型:判斷題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
題型:判斷題
X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進行試壓。
題型:判斷題
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
題型:單項選擇題
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
題型:判斷題
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
題型:判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題