A.增加
B.減小
C.急劇增大
D.恒等于0
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.電導(dǎo)率
B.磁導(dǎo)率
C.幾何形狀
D.以上均是
A.平行
B.垂直
C.不接觸
D.傾斜
A.試件的固有屬性
B.穿過(guò)式線圈的固有屬性
C.與試件和穿過(guò)式線圈均有關(guān)系的一個(gè)性能
D.以上全對(duì)
A.按線性減小
B.不變
C.增大
D.按指數(shù)規(guī)律減小
A.0~1
B.0.5~1
C.1~2
D.1~10
最新試題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。