A.激勵磁場
B.渦流磁場
C.磁疇磁場
D.以上三者都是
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A.發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化
B.在試件中激勵出渦流
C.發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩
D.激勵出試件磁疇
A.激勵渦流和放大信號
B.檢測并放大信號
C.激勵渦流和檢測信號
D.檢測并處理信號
A.匝數(shù)
B.激勵頻率
C.線圈電感
D.以上三項全是
A.ωL
B.2πωL
C.2πfL
D.A和C
A.線圈的電壓
B.線圈的電流
C.線圈的導(dǎo)納
D.空心線圈的電抗
最新試題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。