A.低
B.相等
C.高
D.以上三種均不對(duì)
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A.各種因素引起信號(hào)的相位不同
B.各種因素引起信號(hào)的幅度不同
C.各種因素引起信號(hào)的頻率不同
D.各種因素引起信號(hào)的調(diào)制頻率不同
A.掃描電路
B.報(bào)警電路
C.選通電路
D.濾波電路
A.標(biāo)記器
B.放大器
C.相敏檢波器
D.記錄器
A.幅度
B.周期
C.信噪比
D.帶負(fù)載能力
A.經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
B.不經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
C.任意相位的正弦信號(hào)
D.以上三種都可以
最新試題
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。