橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式，試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內部缺陷
（）
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1：2聲程調整的話（入射點對‘0’，滿刻度200），熒光屏上出現的各反射波的位置應是以下哪種情況（）
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1：1聲程調整的話（入射點對‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現的各反射波的位置應是以下哪種情況（）
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線，探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。此時，各反射波之間的間距應是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
最新試題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
（）可以對管路、管道進行長距離檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。