單項(xiàng)選擇題由一個(gè)探頭發(fā)射超聲波，通過試件后再由另一個(gè)探頭接收，這種檢驗(yàn)方法稱為（）
A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.垂直法
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1.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測圓心無切的半圓試塊，第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度3處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）處。
A.5
B.7.5
C.8
D.9
2.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
3.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對
4.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
5.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題