單項選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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1.單項選擇題用一臺時基線已準確校正的超聲波儀器和斜探頭探測無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對
2.單項選擇題平底孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
3.單項選擇題長橫孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
4.單項選擇題柱孔最常用作（）檢測的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
5.單項選擇題在超聲波檢測中，最適宜以刻槽作為參考反射體探測（）
A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項選擇題