A.不受工件表面形狀和狀態(tài)的影響
B.不受工件材質(zhì)、晶粒度的影響
C.不受缺陷類型、位置和方向的影響
D.缺陷定位比較準(zhǔn)確
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A.穿透能力強(qiáng)，檢測(cè)厚度大
B.靈敏度高，能發(fā)現(xiàn)工件內(nèi)部尺寸很小的缺陷
C.缺陷定性、定量和定位較準(zhǔn)確
D.檢測(cè)速度快，成本低，現(xiàn)場(chǎng)使用方便
A.來自缺陷的超聲信號(hào)及其幅度
B.入射聲波與接收聲波之間的傳播時(shí)間
C.超聲波通過材料時(shí)的能量衰減
D.以上都是
A.通過材料時(shí)能量衰減
B.遇異質(zhì)界面反射、折射
C.斜入射的波型轉(zhuǎn)換
D.以上都是
A、－6dB法
B、端部最大回波法
C、－10dB法
D、端點(diǎn)衍射波法
A、裂紋、未熔合和未焊透；
B、點(diǎn)狀缺陷、線狀缺陷、或面狀缺陷；
C、縮孔、疏松和裂紋；
D、白點(diǎn)、折疊和夾渣。
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。