單項(xiàng)選擇題
A.球面 B.平面 C.柱面 D.以上都可以
A.近場長度 B.頻率 C.晶片尺寸 D.聲束交區(qū)范圍
A.探測近表面缺陷 B.精確測定缺陷長度 C.精確測定缺陷高度 D.用于表面缺陷檢測
A.橫波斜探頭是由直探頭和透聲斜楔組成的 B.斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波 C.斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的縱波聲速 D.橫波是在斜楔與工件交界面產(chǎn)生的
A.硬保護(hù)膜探頭 B.軟保護(hù)膜探頭 C.大尺寸探頭 D.高頻直探頭
A.對晶片振動起阻尼作用 B.吸收晶片背面發(fā)出的雜波 C.對晶片起支撐作用 D.以上都是
A.縱波直探頭用于檢測與檢測面垂直的缺陷 B.橫波斜探頭用于檢測與檢測面傾斜的缺陷 C.表面波探頭用于檢測表面和近表面缺陷 D.蘭姆波探頭用于檢測薄板中的缺陷
A.導(dǎo)電材料 B.磁致伸縮材料 C.壓電材料 D.磁性材料
A.深度范圍 B.深度細(xì)調(diào) C.延遲或水平 D.以上都是
A.發(fā)射強(qiáng)度 B.衰減器和增益 C.抑制和深度補(bǔ)償 D.以上都是
A.幾百到上千伏 B.幾十伏 C.幾伏 D.1伏