單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作（）檢測(cè)的參考反射體。

A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外


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1.單項(xiàng)選擇題在超聲波檢測(cè)中，最適宜以刻槽作為參考反射體探測(cè)（）

A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物

2.單項(xiàng)選擇題在工業(yè)超聲波檢測(cè)中，與聲束射角度無(wú)關(guān)的參考反射體是（）

A.平底孔
B.V形缺口
C.橫通孔
D.大平底

3.單項(xiàng)選擇題超聲波聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）

A.提高信噪比
B.改善超聲波束的橫向分辨率
C.提高檢測(cè)靈敏度
D.以上都是

4.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)探頭尺寸選擇的敘述，正確的是（）

A.壓電晶片的尺寸大，則輻射功率大，可檢測(cè)距離大，指向性好，檢測(cè)效率較高
B.壓電晶片的尺寸大，則近場(chǎng)長(zhǎng)度大，始波占寬較大，近表面分辨率降低，雜波多，信噪比低，遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率降低
C.壓電晶片尺寸小，則近場(chǎng)長(zhǎng)度短，始波占寬小，近表面分辨率高，雜波少，信噪比高，遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率好
D.壓電晶片尺寸小，則輻射功率小，可檢測(cè)距離小，指向性差，檢測(cè)效率低
E.以上都對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有（）

A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護(hù)膜

最新試題

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）是影響缺陷定量的因素。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題